芯片良率瓶颈

芯片良率瓶颈是指在芯片制造过程中，无法达到预期的合格产品产出率。 这通常是由于制造工艺的复杂性、材料缺陷或设备限制造成的，导致大量芯片报废。 它直接影响芯片的生产成本和供货能力，是半导体行业亟待解决的关键技术难题。 解决它意味着更便宜、更多高质量的芯片。